SONIX超声显微镜能够检测材料的哪些缺陷

　　SONIX超声显微镜在观察案成电路和生物组织方面，显示出比光学员微镜还要*的特点。SONIX超声显微镜是利用超声波来获得集成电路和生物组织的显微图象的，其分济率可与光学显微镜相抗衡，而且对比变更高。即使1μ线宽的线也能清晰地拍摄下来。
 

　　SONIX超声显微镜是一种新一代的超声检测设备，能够对很多半导体材料的细微缺陷进行精确的检测，其工作原理通过不同的材料对声波的阻抗不同，对超声波的吸收和反射程度不同，从而得到一些微观层面的检测结果，超声扫描显微镜买什么牌子好不重要而重要的是其检测能力。下面就来详细介绍一下SONIX超声显微镜能够检测材料的哪些缺陷。
 

　　一、杂质颗粒缺陷检测
 

　　很多半导体设备由于其工艺技术较为复杂，生产技术较为特殊，因此生产出的产品往往其内部会出现一些颗粒杂质，目前行业内对这些颗粒杂质都有着较为严格的标准，超出一定范围的颗粒杂质基本上可以判断该半导体产品的质量出现了较大问题，而超声扫描显微镜能够精确地检测出产品中颗粒杂质的数量和范围，对产品的质量带来了良好的保障。
 

　　二、内部裂纹缺陷检测
 

　　在一些做工精密的电器元件器或者半导体产品中，内部裂纹是经常出现的一种产品质量问题。超声扫描显微镜能够通过超声波的阻抗来对产品内部的细微裂纹进行检测，从而有效的将内部出现裂纹的产品筛选出来，避免有质量问题的产品流入到市场中。
 

　　三、内部分层缺陷检测
 

　　内部分层缺陷也是半导体和电子元器件中经常会出现的问题，在过去传统的超声波检测设备对于内部分层缺陷的检测始终有不够精确的问题，而超声扫描显微镜的出现很好的弥补了分层缺陷检测的空白，并且检测的精确度也*。