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  • 光-电联用显微镜法(CLEM)系统
    光-电联用显微镜法(CLEM)系统
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    光-电联用显微镜法(CLEM)系统 MirrorCLEM是一个可简便观察光学显微镜和扫描显微镜同一位置的CLEM*1用系统。

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  • 场发射透射电子显微镜 HF-3300
    场发射透射电子显微镜 HF-3300
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    场发射透射电子显微镜 HF-3300 日立的冷场发射电子源和300 kV加速电压技术共同打造了超高分辨率成像和高灵敏度分析功能。双棱镜全息技术,空间分辨电子能量损失谱以及高精度平行纳米电子束衍射技术开辟了高效,高精度样品分析的新途径。

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    球差校正扫描透射电子显微镜HD-2700 扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。

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    透射电子显微镜HT7800系列 ~从生物医学到材料领域~ 以创新的操作性,满足广泛领域的需求。 新一代TEM“RuliTEM“诞生。

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