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光-电联用显微镜法（CLEM）系统 MirrorCLEM是一个可简便观察光学显微镜和扫描显微镜同一位置的CLEM*1用系统。

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场发射透射电子显微镜 HF-3300 日立的冷场发射电子源和300 kV加速电压技术共同打造了超高分辨率成像和高灵敏度分析功能。双棱镜全息技术，空间分辨电子能量损失谱以及高精度平行纳米电子束衍射技术开辟了高效，高精度样品分析的新途径。

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扫描电子显微镜 FlexSEM100 Hitachi的扫描电子显微镜 FlexSEM 1000「良好的SEM设计得更加紧凑」 只有45厘米宽的紧凑型设计，实现了4.0 nm的分辨率。 全新开发的用户界面和电子光学系统，使性能大幅提升。

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球差校正扫描透射电子显微镜HD-2700 扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司（总经理Max Haider先生）共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究。

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透射电子显微镜HT7800系列 ～从生物医学到材料领域～ 以创新的操作性，满足广泛领域的需求。 新一代TEM“RuliTEM“诞生。

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透射电子显微镜 HT7700 日立HT7700 : 数字一体化的TEM操作平台，操作简便的通用性设计 HT7700优异的高反差、高分辨图像观察与强大的分析扩展功能，可为生物医学、医药、食品、农业、高分子、化学、纳米材料等多领域提供*的TEM解决方案。