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激光芯片开封机 SMART ETCH UV

简要描述:去除半导体芯片的塑封外壳,PCB板截面切割,以及其它类似的破坏性物理试验或失效分析场景。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2022-11-16
  • 访  问  量:90
  • 产品简介
Smart Efficient
激光开封解决方案
助力FA实验室高效分析


设备特点
*激光与视觉的完mei结合。
*简洁的用户界面
*易于使用和学习
*专业开封软件
*傻瓜试绘制图形
*提供超稳定的激光开封工艺
*没有损坏电线
*适用铜、金、银等键合线开封
*实时可见开封过程
基本原理:
芯片激光开封机的工作原理是利用高能激光蚀刻掉芯片或者电子元器件的塑封外壳,从而光学
观测或者电气性能测试提供了可能性,以便于实现X射线等无损检测无法实现的功能。
激光开封技术也可以在不破坏芯片或者电路的整体功能的前提下,去除局部的塑封材料,进行
测试甚至修复实验。与化学开封技术相比,激光开封更加高效,同时避免了减少强酸环境暴露。
应用领域:
去除半导体芯片的塑封外壳,PCB板截面切割,以及其它类似的破坏
性物理试验或失效分析场景。
产品优势:
*多种波长激光可选、更宽的工艺窗口;
*德国的高精密激光扫描头;
*激光系统与CCD视觉系统同轴共焦,实时观测激光扫描过程;
*可直接导入X-Ray或者超声波扫描图像,为复杂定点开封提供支持;
*强大的软件功能,保证了定位、区域标定、聚焦、参数设定、 条码绘制等功能得以简洁可靠地实现;
*高性能烟尘过滤系统,可过滤98%以上0.3um直径的环氧树脂颗粒。
技术参数:
型号
Smart Etch UV
最大扫描范围
110mm x 110mm
激光类型
单点/中心加压
实时操作模式
同轴和共焦(所见即所得)
激光波长
355nm
样品尺寸
0.5mm - 70mm
功率
7W at60kHz
脉冲能量
125μJ
输出功率范围
1% ~ 100%
设备安全等级
Class I (互锁)
脉冲宽度
Pulse Width (nominal) 10 ±
5ns @ 40 kHz 20 ± 5ns @
100 kHz
烟尘过滤器
1.8kPa0.3µ的颗粒
光束质量
M²≤ 1.2
设备尺寸
730 x 1100 x 1600mm
单次开封深度
0.01mm~1mm
气体
压缩空气或氮气、气压0.3MPa
开封速度
≥ 3000mm/s ;
扫描速度13000mm/s
相机
2000万像素彩色照相机
激光频率
Single Shot to 200 kHz
重量
280KG
硅凝胶应用案例Decap Application
应用案例Decap Application



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