光-电联用显微镜法（CLEM）系统

MirrorCLEM光-电联用显微镜法（CLEM）系统

日立扫描电镜SEM, MirrorCLEM是搭配FE-SEM，迅速并准确支援CLEM解析的系统。系统配置 SU8200系列超高分辨场发射扫描电子显微镜

 

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CLEM (Correlative light and electron microscopy)：光学显微镜和电子显微镜的联用观察显微镜法

光-电联用显微镜法（CLEM）系统特色
MirrorCLEM是搭配FE-SEM，迅速并准确支援CLEM解析的系统。
使用此系统，在光学显微镜下从低倍率到高倍率清晰观察树脂切片目标结构后，让观察位置与FE-SEM样品台坐标信息同步，通过控制马达台在FE-SEM上可观察同一位置。
此外，还可实时显示光学显微镜和FE-SEM的叠加图像。

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