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| 品牌 | 蓝岸 |
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LANANtek M系列探针台
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主要特点 ●可选配高温测试环境 ●可选直筒显微镜，体式显微镜或金相显微镜 ●载物台可Z轴升降 ●载物台Theta可粗调360°，微调±7° ●载物台XY移动分辨率为1um ●可选配高压高流测试环境 ●快速装片并可任意位置锁定功能 ●稳定型显微镜桥架，移动分辨率为2um，显微镜气动升降 | 选配附件 ●射频测试探头及电缆 ●低漏电电流/电容测试 ●激光修复 ●探针卡/封装/PCB 板夹具 ●有源探头 ●高压高流模块 ●高清数字相机 ●Hot Chuck ●载物台水平调节机构 |
应用领域 ●Failure analysis 集成电路失效分析 ●Wafer level reliability 晶元可靠性认证 ●Device characterization 元器件特性量测 ●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成监控 ●Package part probing IC封装阶段打线品质测试 ●ESD&TDR testing ESD和TDR测试 ●Microwave probing 微波量测(高频测试) ●Solar太阳能领域检测分析 ●LED、OLED、LCD领域检测分析 ●PCB领域检测分析 ●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试 | 兼容测试仪器 ●各种型号示波器 ●各品牌半导体参数分析仪，博测，是德，泰克，概伦等 ●各种品牌的网络分析仪，是德，罗德施瓦茨，思仪等 ●各种品牌型号的源表 |
